Аналіз нелінійності функції перетворення аналого-цифрового перетворювача

Автор(и)

DOI:

https://doi.org/10.18372/2073-4751.74.17887

Ключові слова:

функція перетворення, аналого-цифровий перетворювач, інтегральна нелінійність (ІНЛ), диференціальна нелінійність (ДНЛ), динамічні характеристики АЦП

Анотація

Дослідження спрямоване на аналіз нелінійності аналого-цифрового перетворювача (АЦП) у цифрових засобах вимірювання, таких як осцилографи, мультиметри та аналізатори спектра. Нелінійність АЦП може призводити до недостатньої точності, спотворень та неоднорідності перетворення сигналу. У дослідженні розглядаються фактори, які спричиняють нелінійність АЦП, та методи оцінки її впливу на результати вимірювань. Також розглядаються параметри, пов'язані з нелінійністю АЦП, які нормуються у технічних описах, що дозволяють оцінити рівень нелінійності та зробити відповідні корекції під час обробки даних.

Посилання

Kester W. MT-001 TUTORIAL Taking the Mystery out of the Infamous Formula, "SNR = 6.02N + 1.76dB," and Why You Should Care. Norwood : Analog Devices, 2009. 7 p.

Kester W. Analog-digital conversion. Norwood : Analog Devices, 2004. 1138 p.

Michaeli L., Michalko P., Šaliga J. Unified ADC nonlinearity error model for SAR ADC. Measurement. 2008. V. 41, No. 2. P. 198–204.

Wagdy M.F., Ng W.-M. Validity of uniform quantization error model for sinusoidal signals withoutand with dither. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 1989. V. 38, Iss. 3. P. 718–722.

Brandolini A., Gandelli A. Testing methodologies for analog-to-digital converters. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 1992. V. 41, Iss. 5. P. 595–603.

Kester W. MT-003 TUTORIAL Understand SINAD, ENOB, SNR, THD, THD + N, and SFDR so You Don't Get Lost in the Noise Floor. Norwood : Analog Devices, 2009. 8 p.

Suchanek P., Slepicka D., Haasz V. Several approaches to ADC transfer function approximation and their application for ADC nonlinearity correction. Metrology and Measurement Systems. 2008. V. 15, No. 4. P. 501–511.

Suchanek P., Slepicka D., Haasz, V. Experimental Verification of Different Models of the ADC Transfer Function. 13th Workshop on ADC Modelling and Testing / Florence, Italy, 2008. P. 22–24.

Kim K. Analog-to-digital conversion and harmonic noises due to the integral nonlinearity. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 1994. V. 43, No. 2. P. 151–156.

Flores M. da Gloria, Negreiros M., Carro L., Susin A. INL and DNL estimation based on noise for ADC test. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement. 2004. V. 53, Iss. 5. P. 1391–1395.

Flores M. da Gloria, Negreiros M., Carro L., Susin A. INL and DNL estimation based on noise ADC test. Proceedings of the 20th IEEE Instrumentation Technology Conference / Vail, CO, USA, 2003. V. 2. P. 1350–1353.

Flores M. da Gloria, Negreiros M., Carro L., Susin A. A noise generator for analog-to-digital converter testing. Proceedings 15th Symposium on Integrated Circuits and Systems Design / Porto Alegre, Brazil, 2002. P. 135–140.

Šaliga J., Michaeli L., Holcer R. Noise sensitivity of the exponential histogram ADC test. Measurement. 2006. V. 39, No. 3. P. 238–244.

Cruz Serra A., Da Silva M.F., Ramos P., Michaeli L. Fast ADC testing by spectral and histogram analysis. Proceedings of the 21st IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference / Como, Italy, 2004. V. 2. P. 823–828.

##submission.downloads##

Опубліковано

2023-06-30

Номер

Розділ

Статті