Міжфрагментарна взаємодія у нанокластерних сполуках

Автор(и)

DOI:

https://doi.org/10.18372/2073-4751.68.16525

Ключові слова:

моделювання, нанокластер, наноелектроніка, вимірювання

Анотація

У роботі запропонована методика яка може бути використана для вимірювання характеристик глибоко субмікронних структур. Цей підхід є корисним для вирішення задач функціональної наноелектроніки. Зокрема, визначає дорожню карту проведення вимірювань на рівні нанотехнологій. Запропоновано розглядати будь-який атомарний кластер, як систему пов’язаних між собою фрагментів. Враховується зміна електронної структури атомарного кластеру. Методика може бути важливою при створенні пристроїв нового покоління.

Посилання

Коvalchuk V., Smorgh M. Metrology of the Real Nanoclusters: Structure and Optical Characteristics. Metrology & Devices. 2020. – №2. – P. 56-60.

Коvalchuk V. Optical Properties of clusters // J. of Physics & Electronics, 2018. – Vol. 26 (1). – P. 29-34

Ковальчук В.В. Нанокластерна модификація гетероструктур. – Одеса: ОДЕКУ: TЕС, 2022. – 226 с .

##submission.downloads##

Опубліковано

2021-12-22

Номер

Розділ

Статті