Electron beam welding complex diagnostics automated system

Authors

  • Є. В. Нікітенко Чернігівський державний технологічний університет

DOI:

https://doi.org/10.18372/2306-1472.55.5446

Keywords:

electron-beam welding, technical diagnostics

Abstract

The structure of the system of technical diagnostics is investigated. The algorithm of technical diagnostic of electron beam welding complex, which serves as the basis for creation of automated system for technical diagnostics, is proposed

Author Biography

Є. В. Нікітенко, Чернігівський державний технологічний університет

Нікітенко Євгеній Васильович. Кандидат фізико-математичних наук. Доцент.

Кафедра інформаційних і комп’ютерних систем, Чернігівський державний технологічний університет, Чернігів, Україна.

Освіта: Київський національний університет ім. Тараса Шевченка, Київ, Україна (1992).

Напрям наукової діяльності: розроблення інформаційних технологій для побудови та впровадження автоматизованих систем технічного діагностування

References

Литвинов В.В. Системы диагностики для установок электронно-лучевой сварки / В.В. Литвинов, И.Ю. Григорьев // Математические машины и системы.  К.: Институт проблем математических машин и систем, 2010.  № 2. – С. 2131.

Николайчук О.И. Системы малой автоматизации / О.И. Николайчук. – Москва: СОЛОН-Пресс, 2003. – 256 с.

Щербаков А. Сеть CAN: популярные прикладные протоколы / А. Щербаков // ChipNews.  1999.  № 5 (38). – С. 27.

Litvinov, V.V.; Grigoriev, I.Yu. 2010. Diagnostic systems for electron-beam welding installations. Journal “Mathematical Machines and Systems”. Kyiv, Institute of Mathematical Machines and Systems Problems. N 2: 2131 (in Russian).

Nykolaychuk, O.I. 2003. Small automation systems. Moscow, SOLON-Press. 256 p. (in Russian).

Shcherbakov, A. 1999. Network CAN: popular application protocols. ChipNews. N 5 (38): 27 (in Russian).

Published

12-05-2013

How to Cite

Нікітенко, Є. В. (2013). Electron beam welding complex diagnostics automated system. Proceedings of National Aviation University, 55(2), 157–162. https://doi.org/10.18372/2306-1472.55.5446

Issue

Section

INFORMATION TECHNOLOGY