Models of optimization of successive systems on the criterion of security against the risk of failures

Authors

  • Б. Г. Капишон Національний авіаційний університет
  • М. Т. Корнійчук Національний авіаційний університет
  • І. К. Совтус Національний авіаційний університет
  • В. Д. Тетерятник Національний авіаційний університет

DOI:

https://doi.org/10.18372/2306-1472.12.13573

Abstract


The method of optimization of complex, successively connected systems is considered at the design and development stage by the criterion of the cost of ensuring security from the risk of system failures, taking into account risk management for the possibility of reducing it. On the basis of the developed modified method of uncertain factors, a method and models are proposed, which allow minimizing the costs of building a system of a given quality with acceptable levels of risk of failures.

Author Biographies

М. Т. Корнійчук, Національний авіаційний університет

д-р техн. наук, проф.

І. К. Совтус, Національний авіаційний університет

канд. техн. наук, доц.

В. Д. Тетерятник, Національний авіаційний університет

доц.

References

Корнійчук М.Т. Ризик та математична модель його функції вартості // Захист інформації. - 2000. - № 2. - С. 35-40.

Корнійчук М.Т., Романов О.І., Совтус І.К., Шутко М.О. Ризик і надійність. Альтернатива категорій та проблеми їхньої формалізації // Вісник КМУЦА. - 2000. - № 3-4.- С. 306-309.

Северцев НА. Надежность сложных систем в эксплуатации и отработке. - М.: Высш. шк., 1989.-432 с.

ТахаХ. Введение в исследование операций. - М.: Мир, 1985. - Т.1. - 479 с.; Т.2. - 496 с.

Корнійчук М.Т., Совтус 1К. Стохастичні моделі інформаційних технологій оптимізації надійності складних систем. -К.: КВІУЗ, 2000. -316 с.

How to Cite

Капишон, Б. Г., Корнійчук, М. Т., Совтус, І. К., & Тетерятник, В. Д. (2002). Models of optimization of successive systems on the criterion of security against the risk of failures. Proceedings of National Aviation University, 12(1), 77–83. https://doi.org/10.18372/2306-1472.12.13573

Issue

Section

INFORMATION TECHNOLOGY

Most read articles by the same author(s)