Костановський, Валерій Вікторович, ДП «НДІ «Квант», Ukraine

• Наукоємні технології Том 42 № 2 (2019) - Електроніка, телекомунікації та радіотехніка
  Дослідження залежності показників надійності АФАР РЛС від температури активної зони кристала GaN транзисторів
  Анотація  PDF